核心原理
不同元素具有独特的电子排布,因此被激发时释放的X射线波长或能量不同,形成特征谱线。
核心参数
1.能量范围:5-18keV
2.能量分辨率:≤2.0eV@(7-9keV)
3.能量重复性:≤30meV@24h
4.X射线源:配置功率≥100W微焦斑×射线源(2个靶材Pd/W),电压20-40kV,最大管电流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)
5.面探测器:配备毛细管聚焦镜,样品处聚焦光斑≤100um,聚焦镜可自动进行切换
6.调节机构精度:能量扫描时最小步长0.1eV
型号:SuperXAFS H3000
型号:SuperXAFS V8000
型号:SuperXAFS M9000
型号:SuperXAFS T2000
型号:SuperXAFS E6000